產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER當前位置:首頁產(chǎn)品中心光學測量儀器超景深顯微鏡PZ-CS3500M超景深三維立體顯微鏡
超景深三維立體顯微鏡觀察物體時能產(chǎn)生正立的三維空間像,立體感強,成像清晰和寬闊,具有較長的工作距離是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡.具有景深大、分辨率大等特點。
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION相關(guān)文章
RELATED ARTICLES產(chǎn)品簡介
超景深三維立體顯微鏡是一種利用光學元件將平行光束聚焦成一點而獲得清晰圖像的技術(shù)是集光學技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)及電子顯示技術(shù)于一體的高科技產(chǎn)品。超景深顯微鏡觀察物體時能產(chǎn)生正立的三維空間像,立體感強,成像清晰和寬闊,具有較長的工作距離是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡.具有景深大、分辨率大等特點。超景深三維顯微鏡可連續(xù)變倍,它的物鏡超出普通顯微鏡的鏡頭,能夠?qū)荛L一段距離內(nèi)的物體清晰成像,還可以進行三維形貌成像、粒徑測量、高度測量、寬度測量。長時間的觀察使操作者無眼疲勞感,操作時可活動自如,不受視力限制,提高工作效率;實體光學成像,提供人性化的操作系統(tǒng)
產(chǎn)品應(yīng)用:
超景深三維立體顯微鏡可供、農(nóng)林、公安、學校、科研部門作觀察分析用,也適用于電子工業(yè)和儀器儀表行業(yè)作精細零部件的檢驗、裝配、修理。三維超景深顯微鏡能將微小的物體加以放大,形成清晰正的立體像廣泛應(yīng)用于半導體的質(zhì)量監(jiān)控超景深顯微鏡工作距離長,清晰范圍大,附件齊全操作方便??蓮V泛應(yīng)用于醫(yī)療衛(wèi)生,農(nóng)林地質(zhì),電子精密機械等行業(yè)和部門,特別適合于LED,PCB檢驗,沖壓電鍍檢驗,電子元件檢驗材料表面三維形貌分析。
產(chǎn)品規(guī)格:
測量分析軟件:
1.圖像測量分析處理系統(tǒng):
測量:靜態(tài)圖像的兩點間距、平行線距、角度、弧度、圓半徑、任意多邊形的面積、周長等多種測量方式,在20X的物鏡下最高測量精度≤0.5um,支持動態(tài)簡易測量比例尺:通過校核顯微鏡和成像裝置,在圖片中任意標定比例尺和日期,實現(xiàn)顯微鏡圖片的數(shù)字化管理和精確量化.圖像優(yōu)化功能: 高斯、高高斯、濾波等功能等。
2.全自由度超景深模型構(gòu)建系統(tǒng):
*超景深合成:實現(xiàn)多張平面圖像融合(采集多張不同高度上樣品圖片,每張圖片上清晰部分提取出來,融合成一張全清晰平面圖像)
*3D全自由度模型構(gòu)建:在全清晰平面圖像的基礎(chǔ)上,構(gòu)建全自由度超景深模型,可以有效有效分辨樣品真實的立體信息和高度信息,從多個角度自由觀察樣品。
觀察過程中,實現(xiàn)以下功能:
動態(tài)/靜態(tài)可選、動態(tài)圖像縮放、觀察角度設(shè)定、手動/自動控制可選、坐標系建立、空間XYZ軸建立、空間輔助框建立。
3.三維測量系統(tǒng):
平面二維基本測量(點/線/角度/平行線/多邊形)三維測量:空間高度測量、面與面夾角、線與面角度、線與線角度、高度均值測量、智能匹配測量、自動高低位置選取、空間平面矯正、3D顏色高度信息圖、偽彩色模式顯示平面圖像拼接功能, 3D超景深圖像自動拼接功能,圖像一鍵對中功能,鼠標控制升降功能。
效果展示:
Copyright © 2024北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司 All Rights Reserved 備案號:京ICP備19005501號-1
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)
管理登錄 sitemap.xml